膜厚仪能同时测量磁性基材表面的非磁性涂镀层，以及非磁性金属基材表面的非导电涂镀层。本仪表内置高精密双探头，利用电磁感应和涡流效应，全自动探测基材属性，计算涂镀层厚度，并通过点阵液晶快速显示结果。
同时，测量数据可分组保存，并实时显示统计值。用户可分别为每组设置上下限报警值、零校准、多点校准。全新的多点校准和零校准，让您非常方便的随时进行校准。标准化菜单，确保您非常容易的使用它。
膜厚仪的特点：
A.大点阵液晶屏，标准化菜单操作；
B.两种测量模式：单次和连续；
C.两种组模式：直接组和通用组,一个直接组和四个通用组。直接组关机后数据自动全部清除。通用组数据将自动保存，关机不丢失。每组可存储80个数据；
D.可零校准和多点校准。各组有单独的零校准和多点校准，组与组之间不影响；
E.用户可随时查看当前工作组已测得的数据，并删除数据或整组数据；
F.实时显示当前工作组统计值：平均值,较小值，Max值,标准方差；
G.三种探头模式：自动、磁感应和涡流；
H.可为各组单独设置高低限报警值，超*屏幕指示报警；
I.可开启或关闭自动关机功能；
J.USB接口可传输通用组数据到计算机；
K.低电和错误提示。
膜厚仪可以测量较大5层重叠薄膜的厚度和折射率。
可测量如氧化物，氮化物，光阻，导电玻璃，聚合物和半导体薄膜等透明或半透明薄膜。
