纳米粒度仪分析仪在一台仪器中集成了动态光散射技术和静态光散射两种技术。动态光散射法用于测量粒度及分子大小，静态光散射法用于确定蛋白质与聚合物的分子量。这种技术对整个系统的稳定性的要求*，要求每个设计元素都必须实现优化，以确保高准确性和重现性。采用光路密闭设计，防止污染。
纳米粒度仪分析仪的工作原理：
采用全量程米氏散射理论，充分考虑到被测颗粒和分散介质的折射率等光学性质，根据大小不同的颗粒在各角度上散射光强的变化反演出颗粒群的粒度分布数据。
颗粒测试的数据计算一般分为约束拟合反演和有约束拟合反演两种方法。有约束拟合反演在计算前假设颗粒群符合某种分布规律，再根据该规律反演出粒度分布。这种运算相对比较简单，但由于事先的假设与实际情况之间不可避免会存在偏差，从而有约束拟合计算出的测试数据不能真实反映颗粒群的实际粒度分布。
约束拟合反演即测试前对颗粒群不做任何假设，通过光强直接准确地计算出颗粒群的粒度分布。这种计算前提是合理的探测器设计和粒度分，给设备本身提出很高的要求。采用优的非均匀性交叉三维扇形矩阵排列的探测器阵列和合理的粒度分，从而能够准确地测量颗粒群的粒度分布。
纳米粒度仪分析仪的功能特点：
1、反演算法：采用拟合累积反演法和基于V-曲线判断准则的正则化算法反演颗粒粒径及其粒度分布，使测量结果的准确度和重复性均小于1%。
2、抗噪能力：采用小波消噪技术，解决了散射光强较低时，噪声过大对测量结果的影响。
3、温控系统：基于半导体制冷装置，采用自适应PID控制算法，使温度控制精度达±0.1℃。
4、稳定的光路系统：采用恒温固态激光光源和单模保偏光纤技术搭建而成的光路系统，保证了光子相关光谱测量系统的稳定性和准确度。
