测厚仪用于用于涂层厚度测量和材料测试，具有通用性强、测量精度高、众多不同的嵌入式测量模块可进行个性化配置并带有各种设备接口，各种不同的探头，用于被测样品不同的几何形状和厚度范围。
测厚仪的特点：
仪器集成了探头，便于操作
出色的重复精度
受基材透磁率、电导率和几何形状（曲率和厚度等）影响小
享有电导率补偿技术（电涡流方法）
快速的单手操作：将仪器放置于工件上即可看到测量读数
两个背光液晶显示屏，便于从各个角度读取测量值，甚至可从仪器顶部读取读数
耐用的探头和坚固的外壳
记录测量值时可以发出声音和视觉的信号
测厚仪的用途：
⊙适用于Windows®2000或选择适用于Windows® XP的真Win32位程序带在线帮助功能。
⊙频谱库中允许创建从元素钛至铀的任何一种新的应用。
⊙能通过“应用工具箱”(由一个带所有应用参数的软盘和校准标准块组成)使应用的校准简单化。
⊙画中画测试件查看和数据显示，带快速移动焦距功能放大试件图像；计算机生成的刻度化的瞄准十字星，并有X-射线光束大小指示器（光束的大小取决于测量的距离）。
⊙图形化的用户界面，测试件的图像显示可插入于测试报告中。
