2019年10月23-26日北京分析测试学术报告会暨展览会诚邀您的光临

　　2019年10月23-26日，第十八届北京分析测试学术报告会暨展览会“BCEIA2019”将在北京·国家会议中心隆重开幕，展出国内外500余家参展企业带来的数千项新的产品和技术，如仪器设备、试剂、软件和分析测试服务等；同时，作为BCEIA重要组成部分的学术报告会将继续组织国内外科学家参加大会报告、10个分会报告（电子显微镜与材料科学、质谱学、光谱学、色谱学、磁共振波谱学、电分析化学、生命科学、环境分析、化学计量与标准物质、标记免疫分析）、专题论坛、墙报、同期会议，面向世界科技前沿，围绕新原理、新方法、新技术等多个方面进行研讨和展望。
 
我司将参加 北京分析测试学术报告会暨展览会 
我们诚邀您作为我司特邀观众莅临参观！
 
广州贝拓科学技术有限公司
展区： 北京·国家会议中心E5馆
展位号：5E013  

参展产品：
自动型接触角测量仪DSA-X Plus
DSA-X Plus 光学接触角测量仪由贝拓科学自主研发设计生产，配置先进的高分辨高速工业相机搭配LED冷光源，获得高清图像并通过全新优化的软件进行计算拟合获得准确的测试数据。仪器机构结合了人体工程学，提供人性化的自动化进样调节、样品台调节、光学系统调节等，使测试变得而快速。  
 
白光干涉薄膜厚度测量仪Delta
白光干涉薄膜厚度测量仪Delta利用薄膜干涉光学原理，对薄膜进行厚度测量及分析。用从深紫外到近红外可选配的宽光谱光源照射薄膜表面，探头同位接收反射光线。白光干涉薄膜厚度测量仪Delta根据反射回来的干涉光，用反复校准的算法快速反演计算出薄膜的厚度。测量范围1nm-3mm，可同时完成多层膜厚的测试。对于100nm以上的薄膜，还可以测量n和k值。

透反射率测量仪RT100
RT100透反射率测量仪支持透过率和反射率测量，给出光谱曲线，可用于测试样品的紫外到近红外波段（宽可达200-2500nm）的透过率及反射率。采用一体式设计，样品仓可以*闭合，把外界光的影响减到低。软件简单易用，自动判断测量结果是否合格。
RT100广泛地用于光学玻璃、薄膜、显示、触摸屏、手机盖板等行业。配备积分球，可用于具有毛糙表面的样品反射光谱和透射光谱测试，如聚光玻璃、毛玻璃等。 

诚邀您的光临！

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