白光干涉仪的原理：
利用干涉原理测量光程之差从而测定有关物理量的光学仪器。两束相干光间光程差的任何变化会非常灵敏地dao致干涉条纹的移动，而某一束相干光的光程变化是由它所通过的几何路程或介质折射率的变化引起，所以通过干涉条纹的移动变化可测量几何长度或折射率的微小改变量，从而测得与此有关的其他物理量。测量精度决定于测量光程差的精度，干涉条纹每移动一个条纹间距，光程差就改变一个波长，所以白光干涉仪是以光波波长为单位测量光程差的，其测量精度之高是任何其他测量方法所*的。
白光干涉仪的特征：
◆较高的垂直分辨率，较强大的测量性能；
0.5~200倍的放大倍率；
任何倍率下亚埃级至毫米级垂直测量量程；
高分辨率摄像头；
◆测量硬件的*设计，增强生产环境中的可靠性和重复性；
较高的震动的容忍度和GR&R测量的能力
自动校准能力；
◆多核处理器下运行的Vision64软件，大大提高三维表面测量和分析速度
数据处理速度提高几十倍；
分析速度提高十倍；
无以伦比的大量数据无缝拼接能力；
◆高度直观的用户界面，拥有较强的实用性，操作简便和分析功能强大
优化的用户界面大大简化测量和数据分析过程；
*的可视化操作工具；
可自行设置数据输出的界面。
