光学膜厚仪探针根据设定的扫描长度、速度和接触力在样品表面移动，随着样品表面的变化，链接在探针上的线性差动变压器接收处理变化的电信号。将变化的电信号转换成数字信号后，就能重现样品表面的起伏变化。
光学膜厚仪的产品特性：
1.满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试。
2.打破传统仪器直线的设计，采用流线体的整体化设计，仪器时尚大方。
3.采用Si-pin探测器，电致冷非液氮制冷，体积小、数据分析准确且维护成本低。
4.采用自主研发的SES信号处理系统，有效提高测量的灵敏度。
5.一键式自动测试，使用更简单，更方便，更人性化。
6.多重防辐射泄露设计，辐射防护级别属于同类产品级。
7.先进的一体化散热设计，使整机散热性能得到极大提高，保证了核心部件的运行安全。
8.*的机芯温控技术，保证X射线源的安全可靠运行，有效延长其使用寿命，降低使用成本。
9.多重仪器配件保护系统，并可通过软件进行全程监控,让仪器工作更稳定、更安全。
10.电镀层测试软件，标准视窗设计，界面友好，操作方便。
11.本机采用USB2.0接口，有效地保证了数据准确高速有效的传输。
光学膜厚仪的使用注意事项：
1、放置产品和聚焦时勿触碰到镜头，且在移动测量台面当仪器报警时，说明所移动方向的位移已到极限，此时应立即朝反方向移动。
2、发现有问题及需建测量程序时，应立即通知道厂家解决。
3、工作室应该保持室内温度在18～30度为宜，相对湿度在70%以下为佳，保持仪器及工作台面的清洁。
4、勿频繁开头仪器，否则电流容易冲击硬件设施，另雷电天气就关闭膜厚测试仪。
