膜厚仪利用红外线发射及接收系统测量透明膜层的厚度，为一种非破坏性，高自动化且快速的量测方式，可在同一样品上进行多点量测并同时量测多层膜的个别厚度，测试样品无需任何前处理，但需输入膜层的准确折射率。
膜厚仪的性能特点：
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求。
小孔准直器可以满足微小测试点的需求。
高精度移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm。
采用高度定位激光，可自动定位测试高度。
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐。
鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点。
高分辨率探头使分析结果更加准确。
良好的射线屏蔽作用。
测试口高度敏感性传感器保护。
膜厚仪的使用注意事项：
1、放置产品和聚焦时勿触碰到镜头，且在移动测量台面当仪器报警时，说明所移动方向的位移已到极限，此时应立即朝反方向移动。
2、发现有问题及需建测量程序时，应立即通知道厂家过来解决。
3、工作室应该保持室内温度在18～30度为宜，相对湿度在70%以下为佳，保持仪器及工作台面的清洁。
4、勿频繁开头仪器，否则电流容易冲击硬件设施，另雷电天气就关闭膜厚测试仪。
