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薄膜厚度测定仪的原理及技术功能详细介绍

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   薄膜厚度测定仪可以对生产设备中各种管道和压力容器进行监测,检测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度。
 
  原理:
  采用激光测量位移差的方式,测量薄膜在一定张力下的表面平整度,并根据设定规则自动识别坏品。张力测量模块由一个激光位移传感器、驱动机构组成。通过可调张力张紧薄膜被测物后,驱动机构位移传感器横向来回扫描,得到膜片横向的高度差,根据转换关系转换成张力均匀性能差异。
 
  薄膜厚度测定仪的技术功能:
  微电脑控制系统,大液晶显示、PLC操作面板,方便用户进行试验操作和数据查看。
 
  严格按照标准设计的接触面积和测量压力,同时支持各种非标定制。
 
  测试过程中测量头自动升降,有效避免了人为因素造成的系统误差。
 
  支持自动和手动两种测量模式,方便用户自由选择。
 
  系统自动进样,进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定。
 
  实时显示测量结果的较小值、平均值以及标准偏差等分析数据,方便用户进行判断。
 
  配置标准量块用于系统标定,保证测试的精度和数据一致性。
 
  系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能,方便快捷地获取测试结果。
 
  标准的USB接口,便于系统与电脑的外部连接和数据。

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