普析通用 XD2/3系列多晶衍射仪

XD2/3型多晶X射线衍射仪用于晶体物质结构定性定量分析。该产品设计精密，硬件、软件功能齐全，灵活适应各种物质微观结构的测试、分析和研究，其技术水平已达到国内前列水平。产品采用了θ-θ测角仪立式、中空轴、射线管座与测角台一体化的结构，可对粉末、大块不规则固体、液体样品进行测试。

• 结构新，采用*进的立式测角仪结构，更加方便的样品放置方式，对于操作、维护的工作力度大为简化，更加直观的使用，便于清理实验后的样品台。

• 采用细分驱动电源技术，精度高，重现性达到0.0006°、测量重复性0.001°、最小步进角度0.0005°；

• 进口NaI闪烁晶体计数探测器，分辨率及长期使用稳定性好；

• X射线管套采用整体铜棒材加工定位精度、射线防护性更好；采用了转轮式快门，开关速度更快，故障率更低，射线阻断性更好，机柜外辐射剂量低于0.2μSv/h（国标规定要求低于2.5μSv/h）；

• X射线光源的数字控制电路作了进一步的改善，X光机的工作功率*由计算机遥控设定。高压与管流的加载过程受微电脑控制自动操作，使用更加简单，运行更加可靠；

中文视窗操作界面，全新改版的PDP衍射数据处理软件包。在数据输出多样性方面作了重大改进。

配置名称

XD2/3

X射线管

（Cu靶国产）

种类

Cu靶，NF型（其它靶材可选）

功率

2.0kW

焦点

1.0×10mm²

X射线发生器

最大输出

4KW

X光管电压

15~60kV，1kV /Step

X光管电流

6~80mA，1mA /Step

管电压、管电流稳定度

≤0.01％（电源低压浮动10％）

测角仪

测角仪结构

θs－2θd(XD2)  θs－θd(XD3)

测角仪扫描半径

180mm

扫描角度范围

-30~80°（θs）

-30～160°（θd）

工作方式

连续扫描、定时步进扫描、定数步进扫描

连续扫描速度

0.125～120°/min

最高转速

120°/min

2θ角重复精度

≤0.0006°

最小步进角度

0.0005°

测量准确度

≤0.001°

发散狭缝（DS）

1/6°、1/2°、1°、2°

防散射狭缝(SS)

1/2°、1°、2°

接收狭缝(RS)

0.1，0.15，0.3，0.45，0.6，1，2mm

调整狭缝

0.02mm

检测器

计数器

晶体类型

NaI

脉冲幅度分析器（HV/PHA）

输出高压0～1000V，稳定性≤0.01％（8h）

机柜

机柜尺寸（mm）

1200（长）×400（宽）×1850（高）

整机重量（kg）

500

观察窗（mm）

600（高）×400（宽）×10（厚）铅玻璃

X射线泄露量

≤0.1μSv/h（未扣除天然本底）

安全措施

门联锁保护（门到位置，光闸才打开，产生X射线）

滤波器

Ni滤片

对应Cu靶

石墨弯晶单色器

反射效率η≥28％

综合指标

整机综合稳定度

≤0.3％