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Microtrac S3500SI图像激光粒度分析仪
- 产品介绍：Microtrac S3500SI图像激光粒度分析仪一台仪器，具备两种分析技术，即采用静态激光衍射技术和图像分析技术同时测量样品。
- 产品型号：
- 更新时间：2024-07-18
- 厂商性质：生产厂家
- 产品品牌：Bruker/布鲁克
- 产品厂地：广州市
- 访问次数：2269
- 在线留言 4006681210
产品介绍
| 品牌 | Bruker/布鲁克 | 分散方式 | 干法分散 |
|---|---|---|---|
| 价格区间 | 面议 | 仪器种类 | 颗粒图像分析仪 |
| 产地类别 | 国产 |
MicrotracS3500SI图像激光粒度分析仪
技术特点：
一台仪器，具备两种分析技术，即采用静态激光衍射技术和图像分析技术同时测量样品。
MicrotracS3500SI图像激光粒度分析仪
技术指标：
测量范围：0.01-2800um（有多种测量范围可选择）
图像测量范围：0.75-2000um
光源：
| 激光衍射： | 三束固体激光器 |
| 动态图像分析： | 高性能频闪LED |
分析时间：
| 激光衍射： | 10-30S |
| 动态图像分析： | 1 Minute |
检测系统：
| 激光衍射： | 接受角度： 0.02-163° |
|
| 检测器：151个检测单元，以对数方式优化排列的高灵敏硅光电二极管 |
|
| 信号采集：无需扫描，实时接受全量程散射光信号 |
| 动态图像分析： | 像素5M，图像分辨率2456×2058,15图片/秒(可选配高速相机) |
操作软件：提供强大的数据处理能力，包括图形，数据输出/输入，个性化输出报告及各种文字处理功能，数据的完整性符合21CFRPART11安全要求。
纳米粒度仪是用于测量纳米颗粒尺寸的仪器，其在纳米电子器件的制备中起着至关重要的作用。纳米电子器件的性能和可靠性在很大程度上取决于纳米颗粒的尺寸和分布。
一、粒度控制
通过提供准确的粒径测量，帮助科研人员和工程师严格控制纳米颗粒的尺寸。这对于纳米电子器件的性能至关重要，因为粒径直接影响电子传输效率、催化活性以及材料的磁性等性质。
二、工艺优化
在纳米电子器件的制备过程中，粒度仪可以帮助研究人员评估不同合成方法和条件对纳米颗粒尺寸的影响。通过这些信息，研究人员可以优化合成工艺，以获得更均匀的粒度分布和期望的颗粒尺寸。
